Más allá de lo visible. Innovación en metrología de superficies

Fecha13-11-2024 - 13-11-2024 Fecha

Tekniker (Eibar)

metrología, superficies, caracterización, micro nano

Tekniker y Sensofar organizan la jornada técnica “Más allá de lo visible. Innovación en metrología de superficies”, un evento diseñado para explorar las últimas innovaciones en tecnologías de metrología óptica de superficies, destacando cómo estas avanzadas técnicas permiten un análisis preciso y detallado más allá de lo visible.

La jornada combina sesiones teóricas y prácticas, ofreciendo una visión integral de las últimas tecnologías en metrología de superficies.

La estructura de este evento permite a los asistentes entender tanto los fundamentos teóricos como la aplicación práctica de tecnologías de medición óptica 3D de vanguardia. Esto les proporcionará una comprensión profunda de cómo implementar estas tecnologías innovadoras en sus respectivos campos para optimizar la precisión y eficiencia en sus procesos de medición y análisis.

Asimismo, se podrá interactuar directamente con algunas de las tecnologías e instrumentos presentados durante la jornada. Los asistentes podrán comprobar el impacto directo de la metrología avanzada en la mejora de procesos y productos en diversos campos industriales y de investigación mediante la exploración de ejemplos concretos, la demostración de equipos y el intercambio de experiencias.

Dirigida a profesionales y técnicos de la industria de metrología, investigación y desarrollo, control de calidad, así como a personal académico y estudiantes interesados en las aplicaciones y avances tecnológicos en la medición de superficies.

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